Жидк. крист. и их практич. использ. 2022.Том 22. Номер 2. Страницы 42—52. DOI: 10.18083/LCAppl.2022.2.42
К вопросу о корреляции между концентрацией вводимых углеродных наночастиц и рельефом поверхности органических матриц в применении к ориентации жидких кристаллов
УДК 532.783; 535.016; 53.043
Н. В. Каманина1,2,3*, А. С. Тойкка2,3, С. В. Лихоманова1,3, Ю. А. Зубцова1,3,
Я. В. Барнаш2,3, П. В. Кужаков1,3
Контактная информация 1Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова, отдел «Фотофизика
наноструктурированных материалов и устройств», Санкт-Петербург, Россия 2Санкт-Петербургский электротехнический университет (ЛЭТИ), Санкт-Петербург, Россия 3НИЦ Курчатовский Институт – Институт ядерной физики (ПИЯФ), Гатчина, Россия
*Автор для переписки: nvkamanina@mail.ru
Аннотация В настоящей работе продолжено рассмотрение эффекта влияния углеродных наночастиц, вводимых в объем органических композиций на основе полиимида, на рельеф поверхности тонких органических пленок. Изменяется как тип, так и концентрация углеродных наночастиц, используемых для сенсибилизации органики. В дополнение к предложенному ранее тестированию смачивания поверхности каплями воды установлено изменение контактного угла при смачивании пленки каплями жидкого кристалла. Подтверждено влияние каркаса наноструктур на рельеф поверхности модельных органических матриц, а также впервые показан близкий к пределу устанавливаемый угол смачивания капель жидкого кристалла на поверхности сенсибилизированной полиимидной матрицы при использовании именно углеродных наночастиц. Дискутируемые зависимости предполагают расширение области применения оптоэлектронных устройств для дисплейной техники, лазерной и биомедицинской техники.
Для цитирования:
Каманина Н. В., Тойкка А. С., Лихоманова С. В., Зубцова Ю. А., Барнаш Я. В., Кужаков П. В. К вопросу о корреляции между концентрацией вводимых углеродных наночастиц и рельефом поверхности органических матриц в применении к ориентации жидких кристаллов // Жидк. крист. и их практич. использ. 2022. Т. 22, № 2. С. 42–52.