Уважаемые авторы и читатели!
Рады вам сообщить, что журнал прошел переаттестацию в Роскомнадзоре.

Наша группа ВКонтакте

УДК 532.783; 535.016; 53.043

Н. В. Каманина^1,2,3, А. С. Тойкка^2,3, С. В. Лихоманова^1,3, Ю. А. Зубцова^1,3, Л. С. Ломова^2,3, П. В. Кужаков^1,3

Контактная информация
¹Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова, отдел «Фотофизика сред с нанообъектами»,
Кадетская линия, д. 5, корп. 2, 199053 Санкт-Петербург, Россия
E-mail: nvkamanina@mail.ru
²Санкт-Петербургский электротехнический университет (ЛЭТИ),
ул. Профессора Попова, д. 5, 197376 Санкт-Петербург, Россия
³НИЦ «Курчатовский Институт» – Институт Ядерной Физики (ПИЯФ),
мкр. Орлова роща, д. 1, 188300 Гатчина, Ленинградская обл., Россия

Аннотация
Рассмотрены результаты поисковых исследований по нахождению новых способов ориентирования жидкокристаллических молекул при использовании рельефа поверхности органических материалов, сенсибилизированных наночастицами. Установлено влияние каркаса наноструктур на рельеф поверхности модельных органических матриц. На примере полиимидов, поливинилового спирта, пиридиновых структур установлены корреляционные зависимости между углом смачивания поверхности тонкоплёночных органических материалов и концентрацией сенсибилизатора. В качестве сенсибилизаторов рассматривались фуллерены, углеродные нанотрубки, восстановленный оксид графена. Установленные зависимости предполагают расширение области применения модуляционных устройств для лазерной и дисплейной техники.

Ключевые слова: органические материалы, жидкие кристаллы, процесс сенсибилизации мезофазы, фуллерены, углеродные нанотрубки, рельеф поверхности, смачивание поверхности